半導體分立器件測試儀

產品型號： ICT2900

所屬分類：半導體器件測試儀

產品時間：2024-05-07

簡要描述：系統有探針臺和機械手接口，與探針臺和機械手連接，用于圓片測試和大批量成品測試。配合軟件設置，可對被測器件進行篩選和分類。運行于WIN 98 下的系統控制和測試程序采用了方便易學的窗口菜單界面，測試人員可以輕松快捷地控制系統，測試器件和開發測試程序。

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產品特點：

    ICT2900系統由 Pentium 計算機和系統主機構成。系統基本配置包括 PC 一臺
（Pentium CPU, 128M RAM, >20G HD, 48X CDROM）。一個測試頭，600 V 電壓輸出/ 20A 電流輸出能力。系統可擴充為三個測試頭，2000 V 電壓輸出/ 100 A 電流輸出，以及交流參數和時間參數（開發中）測量能力。基本配置下zui小漏電流測量分辨率為 30 pA。系統施加和測量精度為 0.1% ~0.5% 。ICT2900系統的可擴充結構，使用戶可以根據需要選購不同的系統配置。

    系統有探針臺和機械手接口，與探針臺和機械手連接，用于圓片測試和大批量成品測試。配合軟件設置，可對被測器件進行篩選和分類。運行于WIN 98 下的系統控制和測試程序采用了方便易學的窗口菜單界面，測試人員可以輕松快捷地控制系統，測試器件和開發測試程序。

     ICT2900系統具有 IEEE 488 接口，通過這個接口連接高精度數字電壓表，可對系統進行檢驗和校準。

特點：

● Pentium 系統主控計算機
● 600 V 高壓程控電壓源（基本配置）zui高2000 V
● 20 A 電流輸出能力（基本配置），zui大 100 A
● 30 pA 漏電流測量分辨率
● 多測試頭（基本配置一個）
● 簡便易學的窗口菜單式軟件
● 測試種類幾乎覆蓋全部半導體分立器件
● 廣泛用于半導體分立器件的生產測試，驗收測 試，質量控制和工程設計
● 終身

技術規格：

系統基本配置及指標

一. 電壓/電流源（V/IS） 16位DAC 程控電壓/電流箝位

1. 加流（FI）
量程 分辨率 精度
20 A 305uA 0.5%
2 A 30.5uA 0.5%
200 mA 3.05uA 0.5%
20 mA 0.305uA 0.5%
2 mA 30.5nA 0.5%
200 uA 3.05nA 0.5%
20 uA 0.305nA 0.5%
2 uA 30.5pA 0.5%

2. 加壓（FV）
量程 分辯率 精度
±20V 305uV 0.5%
±10V 150uV 0.5%
± 2V 30.5uV 0.5%
±200 mV 3.05uV 0.5%

二. 數據采集（包括電壓和漏電流測量）
16位 ADC 100K /S 采樣速率 8K 數據RAM

1.電流測量（MI）
量程 分辨率 精度
100mA 3.05uA 0.5%
10mA 305nA 0.5%
1mA 30.5nA 0.5%
100uA 3.05nA 0.5%
10uA 305pA 0.5%
1uA 30.5pA 0.5%

2.電壓測量（MV）
量程 分辨率 精度
±200V 3.05mV 0.5%
± 20V 305uV 0.5%
± 2V 30.5uV 0.5%
±200mV 3.05uV 0.5%

三．高壓源 HVS （Std.）
規格 數量 精度
±600V / 10mA 1 0.5%
150mV分辨率, 12位DAC
四．繼電器矩陣（STATION）

五．系統接口板 （IEEE488，HANDLER接口）

 六．計算機接口卡

七．軟件
    操作系統：PWIN98窗口菜單控制及編程方式

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